Мультиметр для исследования полупроводников SM/O1, Санкт-Петербург
Описание товара
Мультиметр для исследования полупроводников SM/O1.
Предназначен для прецизионных измерений полупроводниковых структур с применением DLTS, CPC, CV и IV методов. Удобное программное обеспечение позволяет выбирать и адаптировать методы измерения и режимы обработки данных. Электронный блок может использоваться с измерительными головками других подобных устройств. Техническая и методическая поддержка разработчиков и адаптация к требованиям потребителя. Опытный экземпляр .
Предназначен для прецизионных измерений полупроводниковых структур с применением DLTS, CPC, CV и IV методов. Удобное программное обеспечение позволяет выбирать и адаптировать методы измерения и режимы обработки данных. Электронный блок может использоваться с измерительными головками других подобных устройств. Техническая и методическая поддержка разработчиков и адаптация к требованиям потребителя. Опытный экземпляр .
Товары, похожие на Мультиметр для исследования полупроводников SM/O1
Обращаем ваше внимание на то, что торговая площадка BizOrg.su носит исключительно информационный характер и ни при каких условиях не является публичной офертой.
Заявленная компанией Роспроминформ, ООО цена товара «Мультиметр для исследования полупроводников SM/O1» может не быть окончательной ценой продажи. Для получения подробной информации о наличии и стоимости указанных товаров и услуг, пожалуйста, свяжитесь с представителями компании Роспроминформ, ООО по указанным телефону или адресу электронной почты.
Заявленная компанией Роспроминформ, ООО цена товара «Мультиметр для исследования полупроводников SM/O1» может не быть окончательной ценой продажи. Для получения подробной информации о наличии и стоимости указанных товаров и услуг, пожалуйста, свяжитесь с представителями компании Роспроминформ, ООО по указанным телефону или адресу электронной почты.